G.657光纤截止波长、模场直径测试方法探索

责任编辑:swift 2019/05/06 来源:光电通信杂志2019年1/2月刊
成都富通光通信技术有限公司  李庆国
 吴雯雯
 李平

【摘要】普通G.652光纤截止波长、模场直径测试时均可采用国标中要求打半径30mm圈的方法,但G.657光纤对弯曲损耗不敏感,采用此方法不能够得到准确的测试结果。通过对其测试方法进行试验探索,提出对G.657光纤截止波长、模场直径测试方法的建议。

【关键词】G.657光纤;测试;截止波长;模场直径

引言

光纤到户是光纤通信技术发展的重要过程,接入网过程中弯曲部位多、弯曲半径小,对光纤弯曲损耗的要求越来越高,根据这些需求G.657光纤(接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤)应运而生。GB/T 9771.7中对其宏弯性能做出规定,见表1。

表1.国标对G.657光纤宏弯性能要求

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单模光纤截止波长、模场直径常规测试方法过程中一般使用打半径30mm圈的方法来滤模,由表1可以看出,不同种类G.657光纤在半径5mm-15mm的小圈状态下抗弯曲性能良好,该方法基本上起不到滤模的作用。因此,探索G.657光纤截止波长、模场直径的测试方法十分必要。

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